本技术介绍了一种创新的纳米薄膜材料显微图像表征方法,该方法利用深度学习技术实时捕获并校正纳米薄膜材料在原位显微平台上的生长视频数据。该方法通过优化图像处理流程,采用Swin Transformer模型增强图像识别的准确性,旨在提高纳米材料研究的效率和准确性。
背景技术
纳米薄膜材料因其独特的尺寸效应和界面特性而引起了广泛关注。这类材料,诸如氧化铟锡(ITO)、硫化锌(ZnS)薄膜等,展现出优异的电学、光学和机械性能。例如,ITO薄膜因其高透明度和良好的导电性在触控屏和光电设备中具有重要应用;而ZnS薄膜则因其优异的光学性能和良好的化学稳定性在光学涂层和显示技术中表现出色。随着对纳米薄膜材料的研究逐步深入,了解其生长机制和界面特性对于优化其性能和拓展应用领域变得尤为重要。
然而,传统显微技术在原位监测这些材料的生长过程中面临诸多挑战。例如,显微镜的分辨率限制和图像畸变问题使得对复杂生长形态的精确捕捉变得困难。尽管现有的显微技术能够提供一定的结构信息,但面对纳米薄膜材料在不同生长条件下的微观结构变化,传统方法在定位精度和数据分析方面往往显得不足。因此,开发一种能够准确实时表征纳米薄膜材料生长过程的先进方法对于优化材料性能和理解其生长机制至关重要。
实现思路