双光路Z扫描非线性光学测量系统与技术
2025-02-13 18:07
No.1339659262523351040
技术概要
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本技术涉及一种双光路Z扫描非线性光学测量系统及方法,旨在提升非线性光学测量的精度和效率。该系统由脉冲激光器、分束镜BS1等组成,能够发出超短激光脉冲并进行精确测量。
背景技术
本部分的陈述仅仅是提供了与本发明相关的背景技术信息,不必然构成在先技术。 Z扫描技术是一种通过测量样品在高斯光束焦点处引起的光强变化来表征材料非线性光学特性的方法。在实验中,样品沿着光轴移动穿过激光束的焦点,由于非线性效应,样品会改变光束的聚焦特性,导致远场光束直径和强度发生变化。通过分析这些变化,可以得出材料的非线性折射率和非线性吸收系数。具体来说,样品的非线性响应会导致光束在焦点处的自聚焦或自散焦现象,从而在探测器上形成特征性的峰谷曲线,这些曲线的形状和幅度直接关联到材料的非线性参数。 在采用Z扫描技术测量材料的非线性光学特性时,发明人发现以下技术问题: (1)实验结果受光热效应影响。当样品具有显著的线性吸收时,光热效应可能导致样品吸收激光能量后局部温度升高,样品吸收引起的温度变化可以改变材料的折射率,从而影响光束的传播,从而影响实验结果的准确性,因此强烈的光热效应可能会误导Z扫描实验结果。 (2)实验结果受散射影响。Z扫描技术依赖于测量光束通过样品后的变化,如果样品具有高度散射的特性,那么光束的传播可能会受到干扰,导致测量结果不准确。散射介质中的非线性散射效应,可能会导致光束的强度发生变化,这些变化可能会被误认为是材料的非线性折射或非线性吸收引起的。 (3)微弱变化难以精确测量。当样品的非线性效应较弱时,引起的光束强度变化可能接近于噪声水平,导致难以区分真实的非线性信号和噪声。此外,实验中的系统噪声、探测器的灵敏度、激光束的稳定性以及样品本身的不均匀性都可能影响测量结果的准确性。在非线性效应较弱的材料中,因为Z扫描技术依赖于检测光束强度的变化,这可能在实验中难以准确测量。
实现思路
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该技术已申请专利,如用于商业用途,请联系技术所有人!
技术研发人员:
王洪震  徐李海良  刘泽续  蔡清华  闫欣雨  万园  李志昊  王文志  高立明
技术所属: 山东师范大学
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