本技术涵盖工业CT领域,旨在自动化计算和调整CT系统的中心投影参数。该方法通过精确控制CT发光基点的光锥对准探测器感应板,启动光源,并利用第一定位平台进行精细调整,以实现高效、准确的CT图像获取。
背景技术
工业CT,即计算机X射线断层扫描技术,是一种高精度、非破坏性的检测手段。它基于X射线或γ射线等辐射源,利用不同物质对辐射吸收效果的差异性,通过高灵敏度的探测器阵列收集数据,随后利用计算机进行复杂的图像重建处理。这一过程能够生成被检测物体的高分辨率断面层或三维立体图像,使得隐藏在物体内部的细微结构和差异得以清晰展现。
具体来说,当X射线或射线γ穿透被检测物体时,其强度会根据物体内不同物质的密度、厚度及原子组成等因素而发生衰减。这些衰减信息被探测器捕捉并转换为数字信号,随后由计算机系统进行复杂的数学运算和图像重建算法处理,最终生成反映物体内部结构的三维图像。
值得注意的是,为了获得准确的图像重建结果,必须精确掌握扫描过程中CT系统的各项参数状态。这些参数包括但不限于辐射源的强度、探测器的灵敏度、扫描几何参数等,它们对于最终图像的质量至关重要。因此,在实际应用中,通常需要在CT系统上提前进行一系列校准和测量,以确保所有参数都处于最佳状态。
为了进一步提高CT系统的校准精度和效率,研究人员还开发了多种先进的参数计算模型。例如,中国专利CN200910162329.7就提出了一种基于四个小球的CT系统参数计算模型。该模型通过利用已知大小和材质的小球作为校准标准,为了CT系统的各项参数进行精确测量和计算,想提高图像重建的准确性和可靠性。对于四个小球的四点模型精度要求较高,并非人眼可以观察进行调整,而需要精准一起的测量,并且对于四点模型的参数计算流程过于复杂,一旦一个点的计算数据存在误差则会影响所有的数据检测结果。
另外需要获得准确的CT投影几何参数, 其中一维投影的中心位置是非常重要的一项参数。 理论上投影中心与探测器的中心单元是重合的, 但CT的安装过程中难以将二者完全调整一致, 因此, 实际应用中探测器中心与投影中心往往并不重合,若不对该参数进行校正,所得到的重建图像将存在伪影。
实现思路