CT扫描系统中探测器模组温度控制方法、装置和设备
2025-02-28 20:39
No.1345133395461808128
技术概要
PDF全文
本公开实施例提供的CT扫描系统中探测器模组温度控制方法、装置和设备,包括:获取CT扫描系统的控制模块在第一工况下的第一控制参数和探测器模组在第一工况下的第一温度变化率;响应于目标对象提交的触发操作,获取CT扫描系统的探测器模组在第二工况下的第二温度变化率;根据第一温度变化率和第二温度变化率,对第一控制参数进行调整得到第二控制参数;基于第二控制参数,调整CT扫描系统的控制模块在第二工况下控制参数。根据在第一工况下探测器模组的第一温度变化率、控制模块的第一控制参数以及在第二工况下探测器模组的第二温度变化率,调整在第二工况下控制模块的第二控制参数,实现在工况发生改变时,迅速的调整控制模块的控制参数。
背景技术
CT探测器系统对温度很敏感,从系统角度,探测器系统要在一个适当的温度范围内才能正常工作,而且要保证探测器各处温度平稳,假如探测器不同区域温度差距较大,CT扫描图像就会产生伪影,影响图像质量。但是由于探测器本身功率大,体积大,探测器各处的散热能力不尽相同,尤其高速旋转的时候,探测器边缘的模块温度下降比中间的快很多。而且不同的室温条件下,也会影响各处温度的均匀性,总之,温度均匀受到诸多因素的影响。 现有技术中,一般通过调试一个适当的室温范围,且限制探测器系统的转速不要太快,进而保证不同区域探测器温度的温差保持在较小的范围内,也即不同区域探测器温度均匀。 但现有技术中,探测器的转速范围较小,且对探测器所处的环境温度要求比较高,当无法满足环境温度和/或探测器转速无法满足设定转速时,探测器的温度会不均匀,影响CT扫描图像质量。
实现思路
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该技术已申请专利,如用于商业用途,请联系技术所有人!
技术研发人员:
张新
技术所属: 赛诺威盛科技(北京)股份有限公司
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